积塔半导体失效测试电路专利曝光

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天眼查信息显示，上海积塔半导体有限公司于2025年3月14日公开了一项名为“失效测试电路及方法”的专利，专利申请公布号为CN119619786A。

该发明涉及一种失效测试电路及其测试方法，其中包含串联设置的待测器件与保护模块；当待测器件出现二次击穿现象时，保护模块能够有效降低电流热效应对器件的影响，从而保护其失效部位的形貌。此方案允许在确保安全的前提下，采用更大的电压或电流步长进行测试，加快达到所需测试条件的速度，并在发生二次击穿后迅速响应断开电路，在提升测试效率的同时保证准确性。此外，该结构设计简洁、操作方便，有助于缩短测试周期，提高整体产出效率。

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