康芯威存储器固件下刷时间测试专利发布

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合肥康芯威存储技术有限公司近日公布一项名为“一种存储器及存储器的固件下刷时间测试方法”的新专利（申请公布号：CN119541610A，申请公布日：2025年2月28日）。该专利涉及存储器技术领域，旨在提升存储器固件下刷效率和可靠性。

该专利描述了一种新型存储器，其核心部件包括缓存器、闪存模块和主控模块。 缓存器用于暂存主机写入的待测数据；当缓存器写满后，待测数据则写入闪存模块；主控模块负责存储器的初始化，并在数据写入缓存器后，经过预设延迟时间后执行初始化操作，判断数据是否已完整从缓存器下刷到闪存模块。若未完整下刷，则系统会重新配置延迟时间并重新写入数据，直至数据完整下刷。 此方法通过读写后步进式掉电的方式，有效测试开启缓存功能的固件数据下刷时间。

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